测量案例解析倒装芯片

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测量案例解析倒装芯片


倒装芯片将芯片上导电的凸点与线路板上的凸点进行连接,相连过程中,由于芯片的凸点是朝下连接,因此称为倒装。倒装芯片大量应用于高端物联网设备等电子产品中,是构建智能化产品的基础单元之一。 芯片表面的平整程度会影响其连接效果,大多数半导体厂商会以倒装主板中心点为原点,对各测量部位相对于原点的X方向和Y方向的差的绝对值进行评价分析,俗称坐标差。

芯片表面凸点繁多,测量点多,且,线路板布线复杂 。

推荐:可实现多点批量快速测量的非接触影像测量机。



芯片表面不平整,频繁聚焦动作很影响测量速度。

推荐:可以使用对焦无需停顿的TAF(激光表面对焦)功能。

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